Vrstični elektronski mikroskop: Razlika med redakcijama

Pri delovanju vrstičnega elektronskega mikroskopa se po raziskovani površini pomika elektronski curek. Najmanjši premer tega curka je okoli 1 [[nanometer|nm]]. Ko elektronski snop trči na površino vzorca, pri tem nastanejo [[odbiti elektron|odbiti]], [[sekundarni elektron|sekundarni]] in [[Augerjevi elektroni]] ter [[elektromagnetni valovi]] v [[ultravijolični žarki|ultravijoličnem]] in [[rentgenski žarki|rentgenskem]] delu [[svetlobni spekter|spektra]]. Pri tem so odbiti elektroni tisti, ki pri vstopu v vzorec doživijo več trkov, pri čemer se jim smer gibanja spremeni za približno 180°, tako da lahko zapustijo vzorec. Sekundarni elektroni so tisti, ki so bili v vzorcu, pa so jih [[primarni elektron]]i pri [[neelastični trk|neelastičnih trkih]] izbili iz vzorca. V vsaki točki, na katero je usmerjen elekronski snop, nastajajo različne vrste elektronov in elektromagnetna valovanja. Intenziteta teh t. i. produktov interakcije med elektronskim snopom in vzorcem je v veliki meri odvisna od [[kemična sestava|kemične sestave]] vzorca na tem mestu in pa tudi od stanja površine. Število odbitih elektronov je sorazmerno [[vrstno število|vrstnemu številu elementa]]. Področje, kjer je vrstno število večje, bo svetlejše kot področje z manjšim vrstnim številom.