Vrstični elektronski mikroskop: Razlika med redakcijama

[[slikaSlika:SEM chamber1.JPG|thumb|220px|Vrstični elektronski mikroskop z odprto komoro za vzorec]]

Vrstični elektronski mikroskop je sestavljen iz [[Elektronska puška|elektronske puške]], v kateri nastane snop pospešenih [[Elektron|elektronov]]; [[Elektronska leča|elektronskih leč]], ki služijo za fokusiranje in odklanjanje elektronskega curka; detektorjev, ki sprejemajo elektrone in [[Elektromagnetno valovanje|elektromagnetna valovanja]], ki nastanejo pri interakciji [[elektronski snop|elektronskega snopa]] z vzorcem ter krmilja za optimiranje pogojev dela in prikaz elektronske slike. Poleg tega je potrebna tudi [[vakuum|vakuumska]]ska enota, ki zagotavlja v komori nizke [[tlak|tlake]]e, in sicer od 0,0001 [[Pascal|Pa]] do 0,00001 Pa.

Pri delovanju vrstičnega elektronskega mikroskopa se po raziskovani površini pomika elektronski curek. Najmanjši premer tega curka je okoli 1 [[nanometer|nm]]. Ko elektronski snop trči na površino vzorca, pri tem nastanejo [[odbiti elektron|odbiti]], [[sekundarni elektron|sekundarni]] in [[Augerjevi elektroni]] ter [[elektromagnetni valovi]] v [[ultravijolični žarki|ultravijoličnem]] in [[rentgenski žarki|rentgenskem]] delu [[svetlobni spekter|spektra]]. Pri tem so odbiti elektroni tisti, ki pri vstopu v vzorec doživijo več trkov, pri čemer se jim smer gibanja spremeni za približno 180°, tako da lahko zapustijo vzorec. Sekundarni elektroni so tisti, ki so bili v vzorcu, pa so jih [[primarni elektron|primarni elektroni]]i pri [[neelastični trk|neelastičnih trkih]] izbili iz vzorca. V vsaki točki, na katero je usmerjen elekronski snop, nastajajo različne vrste elektronov in elektromagnetna valovanja. Intenziteta teh t.i. produktov interakcije med elektronskim snopom in vzorcem je v veliki meri odvisna od [[kemična sestava|kemične sestave]] vzorca na tem mestu in pa tudi od stanja površine. Število odbitih elektronov je sorazmerno [[vrstno število|vrstnemu številu elementa]]. Področje, kjer je vrstno število večje, bo svetlejše kot področje z manjšim vrstnim številom.

[[Kovina|Kovinske]] vzorce, ki niso vloženi v maso, pripravljamo na enak način kot vzorce za [[svetlobni mikroskop|svetlobno mikroskopijo]]. Prelomne ploskve kovinskih materialov lahko opazujemo kar brez kakršne koli priprave. Kovinske vzorce, ki so vloženi, in vzorce neprevodnih snovi kot so na primer [[keramika]], [[beton]], [[polimeri]], moramo prevleči s tanko plastjo prevodne snovi, katere debelina doseže nekaj desetink nanometra. Običajno jih naparevamo z [[ogljik|ogljikom]]om ali pa napršujemo z [[zlato|zlatom]]m, [[srebro|srebrom]]m ali kako drugo dobro prevodno kovino.

Elektronski snop se po površini vzorca pomika po 1000 med seboj enako razmaknjenih vrsticah. V vsaki od teh vrstic se ustavi na 1000 med seboj enako oddaljenih točkah. Tako torej zaporedoma potipa 1000 × 1000 točk. Ko se elektronski snop pomika po površini vzorca, se istočasno pomika elektronski snop tudi po [[monitor|monitorju]]ju. Pri interakciji snopa z vzorcem nastane določeno število odbitih elektronov. Ustrezen detektor te elektrone zajame, pri tem pa nastane v detektorju [[električni signal]]. Ko ta signal ojačamo, lahko z njim krmilimo jakost elektronskega curka na monitorju. Čim večji je [[električni tok|tok]] odbitih elektronov, tem svetlejša je točka na monitorju. Celotna elektronska slika ne nastane naenkrat, temveč z zaporednim premikanjem elektronskega curka po raziskovani površini.

[[slikaSlika:Misc pollen.jpg|thumb|220px|Posnetek [[pelod]]nih zrn prikazuje veliko globinsko ostrino in druge značilnosti posnetkov vrstičnega elektronskega mikroskopa]]